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本 蛍光X線分析の実際

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本-蛍光X線分析の実際
著者: 中井泉 (編)
定価 ¥6,156(税込)
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出版社名 朝倉書店
発行年月 2005年 10月
ISBNコード 9784254140729
版型 --
ページ数 242P
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中井泉 OFF

目次

蛍光X線分析の基礎/蛍光X線スペクトル/蛍光X線分析装置/よりよいスペクトルを測定するためのテクニック/試料調製法/定量分析/標準物質/全反射蛍光X線分析/X線顕微鏡/SEM‐EDS/めっき・薄膜の分析/超薄膜の分析/蛍光X線分析の実際:応用事例集/放射光利用/分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項/法令と届出(蛍光X線分析装置の場合)

著者情報

中井 泉
1953年東京都に生まれる。1980年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了。東京理科大学理学部応用化学科・教授。理学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

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